A021199其他电子和通信测量仪器

1 采购项目概况学院重点攻关模拟射频核心芯片，包括高性能射频前端芯片模组等模拟核心芯片与器件。拟采购的测试设备可以覆盖功率放大器、锁相环、模数/数模转换器、电源管理等多种类型芯片的测试。2 采购需求概况2.1 微波信号发生器 1台，频率范围：8 k- 67GHz2.2 矢量信号发生器 1台，频率范围：100 k-67GHz2.3 相位噪声测试系统，频率：最低≤50 kHz、最高≥40 GHz，支持升级扩展至110GHz2.4器件电流波形分析仪 ，采样率≥1GSa/s，带宽≥200MHz，存储空间≥256Mpts/ch2.5 半导体参数分析仪 2台包含：开通特性、关断特性、开关特性、反向恢复、栅极电荷、采样率≥ 10GSa/s，2.6 实时示波器 4台。带宽≥6GHz，通道数≥4，采样率≥20 GSa/s，垂直分辨率≥10 bits，高分辨率下支持至16bits2.7 高宽带实时示波器 1台，带宽≥13GHz，通道数≥4，采样率≥80 GSa/s，有效符号数≥5.5bits2.8 频谱分析仪 1台，频率范围：最低频率≤ 10 Hz ，最高频率≥ 50 GHz，分析带宽：≥255 MHz，基于外置扩频模块可扩展频率至 THz 频段2.9 数字万用表 1台，高达100000读数/秒，内部测试设置>340/秒，可编程集成时间从500 ns到1秒，8.5位数分辨率2.10 多输出精准电源1台：双通道，最小电源分辨率：1 pA/1μV，最小测量分辨率：100 fA/100 nV，输出分辨率：5.5位，测量分辨率：6.5位， 2.11 集成电路测试系统1套（基础版）系统内容：具有数字集成电路的功能测试和参数测试的能力，测试系统的数字I/O通道数≥512，数字部分 I/O通道数量：≥5122.12 集成电路测试系统1套（基础版）系统内容：具有数字集成电路的功能测试和参数测试的能力测试系统的数字I/O通道数：≥128，数字部分： I/O通道数量：≥1282.13 小信号源测试系统 1套： 1通道，功率：20W，测量电压量程：20mV-200V；最小量程测量精度：≤20mV,分辨率≤10nV,准确度≤0.1%150uV